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Lösungen

Halbleiter/IC

NGI bietet ausgereifte Testlösungen für die Anforderungen von Halbleiterherstellern. In Bezug auf Testgenauigkeit und Effizienz sind NGI-Instrumente recht konkurrenzfähig und bieten eine hohe Servicequalität und ein gutes Preis-Leistungs-Verhältnis.

Testobjekte: IC-Chip, Diode, Triode, MOS-Röhre, Thyristor usw.

Prüfgegenstände: Einschaltspannungstest, Überstromfähigkeitstest, Alterungstest, elektrischer Leckagetest, Durchschlagstest.


  • Halbleitermonomertest

  • IC-Chip-Test


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